圖1為不同溫度下製備的二硫化鉬納米片的XRD圖譜。在400℃~700℃溫度下硫化可以得到純的產物，而當硫化溫度達到800℃的時候，因為硫磺揮發太快，會導致產物的硫化程度不完全，留下部分中間產物二氧化鉬［圖1(e)］。當硫化溫度為300℃的時候，三氧化鉬和硫化並沒有發生反應，在氬氣保護下煆燒2小時後，僅檢測到三氧化鉬，混合物中的硫磺已經隨著氣流揮發掉了［圖1(f)］。同時，隨著硫化溫度的升高，產物開始出現更多的衍射峰，且衍射峰越來越尖銳，說明產物的結晶程度越來越高。

硫化時間

圖2為600℃下不同硫化時間所得產物的XRD圖譜。即使是在該溫度下僅保持10min，仍然可以生成純的二硫化鉬［圖2(a)］，所有的衍射峰都與標準的六方二硫化鉬相匹配。強的衍射峰說明產物的結晶程度很好。在延長煆燒時間的情況下，所有衍射峰的強度都有稍微的提高，這表明產物的結晶程度又進一步提高。當硫化時間延至120min的時候，(105)，(008)和(201)峰變得更加明顯且尖銳。

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